Detalles del proyecto
Número:PNE-prEN IEC 60749-7:2024
Fuente:UNE
Comité:CTN 209/SC 47
Título del comité:CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores
Fecha de inicio de recepción de comentarios:2024-octubre-09
Fecha límite de recepción comentarios:2024-noviembre-08
Objeto y campo de aplicación del proyecto:Esta Norma Internacional especifica el ensayo y la medición del contenido de vapor de agua y otros gases de la atmósfera en el interior de un dispositivo metálico o cerámico herméticamente cerrado. El ensayo se utiliza como medida de la calidad del proceso de sellado y para proporcionar información sobre la estabilidad química a largo plazo de la atmósfera en el interior del envase. Es aplicable a los dispositivos semiconductores sellados de este modo, pero en general sólo se utiliza para aplicaciones de alta fiabilidad, como las militares o aeroespaciales.
De especial interés es la medición de los gases de sellado primarios (o la ausencia de los mismos), el contenido de humedad, la presencia de gases de bombeo indicativos de no hermeticidad (p. ej., helio), la relación entre oxígeno y argón indicativa de aire ambiente ~ 20 a 1 (±10 %), la concentración disímil de gases sellados internamente (p. ej., nitrógeno, helio, etc.), que la originalmente sellada en el envase del dispositivo, la presencia de fluido de prueba de fugas (p. ej. fluorocarbono, helio, aire), y todos los demás gases para determinar si el dispositivo cumple los criterios especificados de humedad, hermeticidad y otros. También es interesante la medición de todos los demás gases, ya que reflejan la calidad del proceso de sellado y proporcionan información sobre la estabilidad química a largo plazo de la atmósfera en el interior del dispositivo. La presencia de vapor de fluorocarbono de prueba de fugas en el IGA es una indicación de incumplimiento de los requisitos de prueba de fugas de la norma IEC 60749-8. Esta prueba es destructiva.
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