Detalles del proyecto
Número:PNE-prEN IEC 60749-24:2024
Fuente:UNE
Comité:CTN 209/SC 47
Título del comité:CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores
Fecha de inicio de recepción de comentarios:2024-octubre-09
Fecha límite de recepción comentarios:2024-noviembre-08
Objeto y campo de aplicación del proyecto:El ensayo de estrés altamente acelerado (HAST) sin polarización se realiza con el fin de evaluar la fiabilidad de los dispositivos de estado sólido no envasados herméticamente en entornos húmedos.
Se trata de un ensayo altamente acelerado que emplea la temperatura y la humedad en condiciones sin condensación para acelerar la penetración de la humedad a través del material protector externo (encapsulante o junta) o a lo largo de la interfaz entre el material protector externo y los conductores metálicos que lo atraviesan. En este ensayo no se aplica polarización para garantizar que se puedan descubrir los mecanismos de fallo potencialmente eclipsados por la polarización (por ejemplo, la corrosión galvánica).
Este ensayo se utiliza para identificar mecanismos de fallo internos al paquete y es destructivo.
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