Detalles del proyecto
Número:PNE-prEN IEC 61788-15:2025
Fuente:UNE
Comité:CTN 206/SC 90
Título del comité:CTN 206/SC 90 Superconductividad
Fecha de inicio de recepción de comentarios:2025-marzo-12
Fecha límite de recepción comentarios:2025-abril-11
Objeto y campo de aplicación del proyecto:Esta parte de la Norma IEC 61788 describe las mediciones de la impedancia superficial intrínseca (ZS) de las películas HTS a frecuencias de microondas mediante un método de resonador dieléctrico de dos modos de resonancia modificado [14, 15]. El objeto de la medición es obtener la dependencia de la temperatura de la impedancia superficial intrínseca, ZS, a la frecuencia de resonancia f0.
El rango de frecuencias y espesores y la resolución de la medición para la ZS de las películas HTS son los siguientes:
- Frecuencia: Hasta 40 GHz;
- espesor de la película: Superior a 50 nm;
- resolución de medición: 0,01 mΩ a 10 GHz.
Se comunicarán los datos ZS a la frecuencia medida, y los escalados a 10 GHz, asumiendo la regla f2 para la resistencia superficial intrínseca, RS (f < 40 GHz), y la regla f para la reactancia superficial intrínseca, XS, a efectos comparativos.
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