Detalles del proyecto

Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 8: Medición de la inmunidad radiada. Método de la línea TEM de placas con circuito integrado (IC)
Número:PNE-prEN IEC 62132-8:2025
Fuente:UNE
Comité:CTN 209/SC 47
Título del comité:CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores
Fecha de inicio de recepción de comentarios:2025-abril-08
Fecha límite de recepción comentarios:2025-mayo-08
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Objeto y campo de aplicación del proyecto:Esta parte de la norma IEC 62132 especifica un método para medir la inmunidad de un circuito integrado (CI) a las perturbaciones electromagnéticas radiadas de radiofrecuencia (RF) utilizando una línea TEM de placas con circuito integrado.

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