Detalles del proyecto

Dispositivos semiconductores. Directrices de planificación de cualificación de la fiabilidad. Parte 4: Evaluación precoz de fallos
Número:PNE-prEN IEC 63287-4
Fuente:UNE
Comité:CTN 209/SC 47
Título del comité:CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores
Fecha de inicio de recepción de comentarios:2025-julio-14
Fecha límite de recepción comentarios:2025-agosto-11
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Objeto y campo de aplicación del proyecto:Esta parte de la norma IEC 63287 ofrece directrices para el desarrollo de planes de cualificación de la fiabilidad utilizando la evaluación temprana de fallos, basada en el acondicionamiento ambiental y el uso propuesto del producto. Este documento no está destinado a aplicaciones militares ni espaciales.

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