TECNICAS DE FABRICACION

Comité: CTN 203/SC 65 (CTN 203/SC 65 MEDIDA Y CONTROL DE PROCESOS INDUSTRIALES-FIELDBUS)
Origen: UNE
Fecha de cierre: 2018-mayo-12
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Esta norma establece requisitos para: * definir un sistema en estudio (SuC) para un sistema de automatización y control industrial (IACS), * dividir el SuC en zonas y conductos, * evaluar el riesgo para cada zona y conducto, * establecer niveles de seguridad objetivo (SL-Ts) para cada zona y conducto, y * documentar los requisitos de seguridad.
Sectores: Esmaltes
Comité: CTN 112 (CTN 112 CORROSIÓN Y PROTECCIÓN DE LOS MATERIALES METÁLICOS)
Origen: UNE
Fecha de cierre: 2018-mayo-12
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Esta norma especifica un método de ensayo a baja tensión para detectar y localizar defectos (poros, grietas o desprendimientos) que se producen en recubrimientos de esmalte de perfiles corrugados y/u ondulados y que se extienden hasta la base metálica. El método se basa en los efectos de color (método óptico) y es adecuado para la detección precisa de defectos y su posición exacta. Se puede usar para formas no planas y más perfiladas, como superficies corrugadas u onduladas. NOTA El ensayo a baja tensión es un ensayo no destructiva para detectar defectos que se extienden hasta la base metálica y, por lo tanto, es completamente diferente en comparación con el ensayo a alta tensión según la Norma ISO 2746