ELECTRONICA

Comité: CTN 203/SC 33 (CTN 203/SC 33 Condensadores de potencia)
Origen: UNE
Fecha de cierre: 2025-julio-10
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Esta parte de la serie IEC 62146 incluye las generalidades de los condensadores utilizados en los interruptores automáticos de corriente alterna e introduce especificaciones para los condensadores de graduación. En lo que respecta a los condensadores de graduación, su función es controlar la distribución de la tensión a través de las unidades de interrupción individuales de un interruptor automático multiinterruptor. Los condensadores también se pueden utilizar en paralelo a la unidad de interrupción en interruptores automáticos monoestables para modificar la tensión transitoria de recuperación (TRV). Esta aplicación del condensador TRV está cubierta por la Norma IEC 62146-2:2023. Los condensadores para interruptores automáticos de alta tensión alterna son un subcomponente del interruptor automático y se especificarán de acuerdo con las especificaciones del interruptor automático según las Normas IEC 62271-1, IEC 62271-100 y, si procede, IEC 62271-203. La presente Norma se aplica a los condensadores de calibrado pertenecientes a una o a las dos categorías siguientes para: - montaje en interruptores automáticos aislados en aire. - montaje en interruptores automáticos cerrados (por ejemplo, sumergidos en gas aislante, en aceite, etc.). Los ensayos para cada una de las aplicaciones mencionadas son, en algunos casos, diferentes. El objeto de la presente Norma es: - definir reglas uniformes en materia de prestaciones, pruebas y clasificación. - Definir reglas de seguridad específicas. - proporcionar una guía para la instalación y el funcionamiento. NOTA La Norma CIGRE TB-368 presenta un estudio sobre el entorno de funcionamiento de los condensadores de graduación de tensión aplicados a los interruptores automáticos de alta tensión (véase [2]). Esta Norma no se aplica a los condensadores no asociados directamente a los interruptores automáticos de corriente alterna de alta tensión.
Comité: CTN UNE - EL/SC 01 (CTN UNE - EL/SC 01 Seguimiento trabajos CLC SR 124)
Origen: UNE
Fecha de cierre: 2025-julio-10
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Este documento especifica los métodos de ensayo de los sensores sEMG mediante la evaluación de la calidad de las señales sEMG obtenidas de la contracción de los músculos del antebrazo y la mano para aplicaciones wearable. Es aplicable a los sensores sEMG que se utilizan para descifrar las intenciones de movimiento y utilizarlas como señales de control en situaciones como la realidad virtual, el control de juegos/UAV/robots y la domótica. No es aplicable a los sensores sEMG destinados a aplicaciones sanitarias.
Comité: CTN 209/SC 76 (CTN 209/SC 76 Equipos, instalaciones y sistemas láser y electro ópticos)
Origen: UNE
Fecha de cierre: 2025-julio-10
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Este documento especifica métodos para determinar la estabilidad posicional y angular del haz láser. Los métodos de ensayo indicados en este documento están destinados a ser utilizados para el ensayo y la caracterización de láseres.
Comité: CTN 209/SC 76 (CTN 209/SC 76 Equipos, instalaciones y sistemas láser y electro ópticos)
Origen: UNE
Fecha de cierre: 2025-julio-10
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En esta norma internacional se especifican los procedimientos y técnicas para obtener una serie de valores contrastables del factor de absorción de los componentes ópticos de láser.
Comité: CTN 209/SC 47 (CTN 209/SC 47 Dispositivos de semiconductores)
Origen: UNE
Fecha de cierre: 2025-julio-10
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Esta parte de la norma IEC 63378 especifica un modelo de resistencia térmica y capacitancia para paquetes de semiconductores. Este modelo se denomina modelo de transformación digital mediante resistencia térmica y capacitancia (DXRC). Predice la temperatura transitoria en los puntos de unión y medición. Este documento se aplica a paquetes de semiconductores como TO-252, TO-263 y HSOP. Admite paquetes de un solo chip que disipan calor desde una única superficie del paquete.