METROLOGIA Y MEDICION. FENOMENOS FISICOS

Esta parte de la Norma IEC 61788 describe las mediciones de la impedancia superficial intrínseca (ZS) de las películas HTS a frecuencias de microondas mediante un método de resonador dieléctrico de dos modos de resonancia modificado [14, 15]. El objeto de la medición es obtener la dependencia de la temperatura de la impedancia superficial intrínseca, ZS, a la frecuencia de resonancia f0. El rango de frecuencias y espesores y la resolución de la medición para la ZS de las películas HTS son los siguientes: - Frecuencia: Hasta 40 GHz; - espesor de la película: Superior a 50 nm; - resolución de medición: 0,01 mΩ a 10 GHz. Se comunicarán los datos ZS a la frecuencia medida, y los escalados a 10 GHz, asumiendo la regla f2 para la resistencia superficial intrínseca, RS (f < 40 GHz), y la regla f para la reactancia superficial intrínseca, XS, a efectos comparativos.

Reemplazo: Este requisito particular especifica la determinación del ruido acústico aéreo de las aspiradoras en seco conectadas a la red eléctrica y sin cable para uso doméstico o en condiciones similares a las de los hogares. Para las aspiradoras en seco y en húmedo se aplicará la función de limpieza en seco. La función de limpieza en húmedo se medirá de acuerdo con la norma IEC 60704-2-20:202x. Este documento no se aplica a las aspiradoras para fines industriales o profesionales. NOTA Los requisitos particulares para los robots de limpieza en seco se especifican en la norma IEC 60704-2-17. Este documento describe la determinación de la emisión de ruido de las aspiradoras en condiciones normales de funcionamiento sobre alfombras y suelos duros de acuerdo con el apartado 4.6 de la norma IEC 62885-2:2021. NOTA 101 Para determinar y verificar los valores de emisión de ruido declarados en las especificaciones del producto, consulte la norma IEC 60704-3.

El proyecto de norma europea no contiene este capítulo.

Este documento define la gramática de los símbolos utilizados en la serie de normas ISO 10360 para identificar características metrológicas de los sistemas de medición de coordenadas (SMCs) y sus especificaciones. Este documento no proporciona el significado de estos símbolos, ni de los símbolos completos ni de sus componentes. Estos significados se definen en los documentos ISO 10360 que los introducen.

Este documento especifica la calibración y ajuste de las características metrológicas de los instrumentos de contacto (de palpador), para la medición de la calidad superficial por el método del perfil, definidos en la Norma ISO 25178-601. La calibración y ajuste se realizan mediante el uso de patrones de medida. El anexo B especifica la calibración y ajuste de las características metrológicas de los instrumentos de contacto (de palpador), de utilización simplificada, no conformes con la Norma ISO 25178-601.

En este documento se especifican las características metrológicas y de diseño más importantes de los calibres limitadores lisos de dimensión lineal. En este documento se definen los diferentes tipos de calibres limitadores planos utilizados para verificar las especificaciones dimensionales lineales lineales asociadas al tamaño lineal. Este documento también define las características de diseño y las características metrológicas de estos calibres así como los límites máximos admisibles (LMP) del nuevo estado o de los límites de desgaste para estas características metrológicas. para estas características metrológicas. Además, este documento describe la utilización de los calibres límite. Abarca tamaños lineales de hasta 500 mm.

Este documento especifica el diseño y las características de los instrumentos de variación de foco para la medición de áreas de la topografía de superficie. Dado que los perfiles de superficie pueden extraerse a partir de datos de topografía de superficie de área, los métodos descritos en este documento pueden aplicarse también a las mediciones de perfiles. Este documento trata la variación de enfoque sin iluminación de patrón o con iluminación de patrón fijo. Los métodos que utilizan una iluminación de patrón variable durante la medición quedan excluidos de este documento.