Medición lineal y angular

Comité: CTN 82/SC 2 (CTN 82/SC 2 Metrologia dimensional)
Origen: UNE
Fecha de cierre: 2025-agosto-11
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Esta parte de la Norma ISO 25178 define el tipo S1 y S2 de software de medida patrón par verificar los instrumentos de medida de software. También especifica el formato de archivo de datos de superficie (SDF) softwares de medición patrón de software Tipo S1 para la calibración de instrumentos para la medición de la textura superficial por el método areal como definido en la cadena de estándares de textura superficial areal, enlace de cadena G. El formato SDF es adecuado para datos de medición de topografía areal extraídos con una cuadrícula ortogonal (véase ISO 14406:2010, 5.2) e intervalos de muestreo equidistantes, independientemente del principio de medición. NOTA A lo largo de este documento, el término «softgauge» se utiliza como sustituto de «software de medición patrón Tipo S1».